“惠州中山凤岗GUT6000A数字IC测试仪”参数说明
是否有现货: | 是 | 加工定制: | 否 |
型号: | GUT6000A | 规格: | GUT6000A |
“惠州中山凤岗GUT6000A数字IC测试仪”详细介绍
GUT6000A数字IC测试仪的详细资料:
GUT6000A数字IC测试仪,自动搜寻 IC 编号功能,54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ,4000 及 4500 系列 CMOS
GUT-6000A是一款台式IC测试仪。鉴于使测试任务自动化,GUT-6000A包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智能化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GUT-6000A更接近零维护,减少了使用者不必要的争议。测试器件大1800多种常见的TTL和COMS器件,真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
循环测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可测量的IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
测试针脚: 28 Pin
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
测量种类
约 1800 种
测试电压
5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸&重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
GUT6000A数字IC测试仪,自动搜寻 IC 编号功能,54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ,4000 及 4500 系列 CMOS
GUT-6000A是一款台式IC测试仪。鉴于使测试任务自动化,GUT-6000A包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智能化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GUT-6000A更接近零维护,减少了使用者不必要的争议。测试器件大1800多种常见的TTL和COMS器件,真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
循环测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可测量的IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
测试针脚: 28 Pin
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
测量种类
约 1800 种
测试电压
5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸&重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤