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“IC集成电路老化测试座（4M-68J）”参数说明
| 型号： | 4M-68J | 规格： | 4m-68j |
“IC集成电路老化测试座（4M-68J）”详细介绍
IC集成电路老化测试座
该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。
产品型号及规格；
4M-68J
主要技术指标；
间距；1.27mm
环境温度；-55℃—＋155℃
接触电阻；≤0.01欧
工作电压；DC500V
单脚插入力；≤0.2Kg
弹片金层厚度；1um镍2um金
封装形式：CPGA
该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。
产品型号及规格；
4M-68J
主要技术指标；
间距；1.27mm
环境温度；-55℃—＋155℃
接触电阻；≤0.01欧
工作电压；DC500V
单脚插入力；≤0.2Kg
弹片金层厚度；1um镍2um金
封装形式：CPGA