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颗粒松装密度仪
颗粒松装密度仪升级后增加如下功能：本品除配置定位角之外，配置调节平衡之水平仪装置，减少外部环境对测量结果的影响；量杯有定位装置，从而保证漏斗和量杯的中心在一条直线上.，方形布料箱周围由4块亚克力板固定，以防测试时试样向外溅出；是我公司依据GB/T 1479.2-2011 金属粉末松装密度的测定 2部分：...
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2017-09-27 |
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插接器接触电阻测试仪LX-9831
LX-9831电压降测试系统 一、概述：本系统电压降和接触电阻是车用电线束插接器在强电流电路和弱电流电路下电性能评定指标；在恒定电流状态下，通过测试导线压接和端子接触区域的电压降，还可以获得接触电阻数据；如果通过模拟环境试验测试后的汽车用插接器再进行电压降测试，数据能更真实反映产品本身的特性；适用于科研院所、企业研发、进料检验和质量中...
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2017-09-19 |
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FT-334普通四探针电阻率/方阻测试仪
FT-334普通四探针电阻率/方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参...
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2017-09-02 |
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FT-352导体材料高温电阻率测试系统
FT-352导体材料高温电阻率测试系统一、概述：采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量.三、功能介绍：液...
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2017-08-30 |
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FT-391系列手持式四探针方阻测试仪FT-391
FT-391系列手持式四探针方阻测试仪一、 ：参照硅片电阻率测概述量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T&#...
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2017-08-15 |
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FT-361超低阻双电四探针测试仪
FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示...
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2017-08-13 |
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FT-701电炭制品电阻率测试仪
FT-701电炭制品电阻率测试仪 一.满足标准：JB/T8133.2-1999 电炭制品物理化学性能试验方法.二.适用范围：本标准适用于电刷及其他电炭制品电阻率的测定.三.功能描述：直流恒流源输出系统结合集成电路及高精度芯片控制，大液晶显示屏幕更加直观，直读电阻，电压降，电阻率，高精度的测试量程；各类参数和功能设定通过薄膜面板实现，人性化设...
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2017-08-09 |
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FT-343双电测电四探针电阻率/方阻测试仪
FT-343双电测电四探针电阻率/方阻测试仪广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导...
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2017-08-02 |
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