“TA610/TA620粗糙度仪测量平台”参数说明
品牌: | 北京时代 | 测量方法: | 针描法 |
类型: | 手持式粗糙度仪 | 加工定制: | 否 |
型号: | TA610/TA620粗糙度仪测量平台 | 规格: | 1 |
商标: | 1 | 包装: | 1 |
“TA610/TA620粗糙度仪测量平台”详细介绍
粗糙度仪测量平台TA610
- 齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度
- 花岗岩平台平面度:00级|平面公差值3μm
- 花岗岩平台尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:270mm
- 垂直升降微调量:20mm
粗糙度仪测量平台TA620
- 丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量精度
- 花岗岩平台平面度:00级|平面公差值3μm
- 花岗岩平台尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:300±1mm
- 升降回程误差:≤手轮旋转1/6圈
粗糙度仪测量平台TA620
- 丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量精度
- 花岗岩平台平面度:00级|平面公差值3μm
- 花岗岩平台尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:300±1mm
- 升降回程误差:≤手轮旋转1/6圈