“SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪”参数说明
是否有现货: | 是 | 认证: | CE |
类型: | 线缆检测仪 | 用途: | 网络维护设备 |
网络传输介质: | 有线网络测试仪 | 功能: | 数据管理 |
使用范围: | 数据中心 | 型号: | SUN-XGT-007 |
规格: | 万兆以太网测试仪 | 商标: | Sun Telecom |
包装: | 纸箱 | 产量: | 100000 |
“SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪”详细介绍
SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪是为下一代网络提供完整测试解决方案,具有多种功能的测试套件,为开通及验证网络性能的现场测试工具,支持10/100/1000Mb/s电接口、100/1000M SFP光接口和双10Gbps SFP+光接口,能够产生以太网测试各种业务流量的生成以及数据的分析。
SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪能够提供以太网系统的安装、维护以及新业务的激活等服务。通过集成在一个平台上,能够同时提供各种测试功能,能够验证和评价网络的各种QoS指标,并具有完整EtherSAM功能。
SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪使现场技术人员可轻松、迅速地进行10 Mbit/s到10 Gbit/s的以太网服务、开通、验证和故障诊断。
产品特点
可以灵活应用于实验室环境和室外现场环境
7寸高分辨率彩色触摸屏
支持PC远程控制管理
提供智能侦测和远端控制实现在线测试
提供测试配置文件导入导出,测试报告生成
更全面的以太网测试功能
内置高容量锂电池支持长达4小时连续测试
支持2个10/100/1000BASE-T RJ45电口,2个100/1000BASE-X SFP光口
和2个10GE SFP+光口
能够生成10M~10Gb/s流量,支持LAN/WAN模式
支持1~4层误码率测试
支持高达16个业务流量生成,进行多业务测试
支持标准的RFC2544测试
支持标准的Y.1564测试
支持OAM测试(选件)
支持VLAN测试,以及优先级配置,并支持VLAN Q-in-Q测试
支持MPLS测试以及3级MPLS嵌套测试
支持业务服务中断时间测量
支持QoS和ToS/DSCP业务优先级测试
能够进行各种数据包的捕获和分析
支持智能侦测以及远程环回测试
测试性能技术指标
项目 参数
接口数量 7(2个万兆电口,2个千兆SFP插槽,2个万兆SFP+插槽,1个管理口)
光接口 1000Base-SX 1000Base-LX 1000Base-ZX
波长(nm) 850 1310 1550
激光类型/连接器/模块类型 VCSEL/LC/SFP FP/LC/SFP DFB/LC/SFP
电接口 10M Base-T 100M Base-T 1000M Base-T
SFP+光接口(10G) 10G Base-SR/SW 10G Base-LR/LW 10G Base-ER/EW
波长(nm) 850 1310 1550
激光类型/连接器/模块类型 VCSEL/LC/SFP+ DFB/LC/SFP+ CML/LC/SFP+
测试项目
Y.1564 依据ITU-T Y.1564进行网络配置和服务测试。可使用远程环回或双重测试设备模式进行测试,获得双向结果
RFC2544 依照RFC 2544之规定,可测量吞吐量、背对背、帧丢失和延迟。帧大小:
RFC定义的大小,用户可配置1至7种
BERT误码测试 无论是否带有VLAN Q-in-Q,均可支持第1层至第4层
穿通模式 在服务提供商网络和客户驻地设备之间对信息流进行分段
服务中断时间(SDT) 包括统计数据,包括最短中断时间,最长中断时间,上次中间时间,平均中断时间,总中断时间和通过/未通过阈值
多流生成 能够在以太网和IP网络上传输并监控多达16个数据流的功能。
信息流生成和监测 能够生成信息流并监测以太网和IP信息流,并能够根据下列统计数据进行信息流整形:吞吐量,帧丢失,帧排序,数据包抖动,延迟,帧大小,信息流类型和流量监测
VLAN堆叠 能够在任何堆叠的VLAN层上,以VLAN ID或VLAN优先级生成最多具有2层VLAN(包括IEEE802.1ad Q-in-Q标记的VLAN)的数据流
SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪能够提供以太网系统的安装、维护以及新业务的激活等服务。通过集成在一个平台上,能够同时提供各种测试功能,能够验证和评价网络的各种QoS指标,并具有完整EtherSAM功能。
SUN-XGT-007系列万兆以太网测试仪使现场技术人员可轻松、迅速地进行10 Mbit/s到10 Gbit/s的以太网服务、开通、验证和故障诊断。
产品特点
可以灵活应用于实验室环境和室外现场环境
7寸高分辨率彩色触摸屏
支持PC远程控制管理
提供智能侦测和远端控制实现在线测试
提供测试配置文件导入导出,测试报告生成
更全面的以太网测试功能
内置高容量锂电池支持长达4小时连续测试
支持2个10/100/1000BASE-T RJ45电口,2个100/1000BASE-X SFP光口
和2个10GE SFP+光口
能够生成10M~10Gb/s流量,支持LAN/WAN模式
支持1~4层误码率测试
支持高达16个业务流量生成,进行多业务测试
支持标准的RFC2544测试
支持标准的Y.1564测试
支持OAM测试(选件)
支持VLAN测试,以及优先级配置,并支持VLAN Q-in-Q测试
支持MPLS测试以及3级MPLS嵌套测试
支持业务服务中断时间测量
支持QoS和ToS/DSCP业务优先级测试
能够进行各种数据包的捕获和分析
支持智能侦测以及远程环回测试
测试性能技术指标
项目 参数
接口数量 7(2个万兆电口,2个千兆SFP插槽,2个万兆SFP+插槽,1个管理口)
光接口 1000Base-SX 1000Base-LX 1000Base-ZX
波长(nm) 850 1310 1550
激光类型/连接器/模块类型 VCSEL/LC/SFP FP/LC/SFP DFB/LC/SFP
电接口 10M Base-T 100M Base-T 1000M Base-T
SFP+光接口(10G) 10G Base-SR/SW 10G Base-LR/LW 10G Base-ER/EW
波长(nm) 850 1310 1550
激光类型/连接器/模块类型 VCSEL/LC/SFP+ DFB/LC/SFP+ CML/LC/SFP+
测试项目
Y.1564 依据ITU-T Y.1564进行网络配置和服务测试。可使用远程环回或双重测试设备模式进行测试,获得双向结果
RFC2544 依照RFC 2544之规定,可测量吞吐量、背对背、帧丢失和延迟。帧大小:
RFC定义的大小,用户可配置1至7种
BERT误码测试 无论是否带有VLAN Q-in-Q,均可支持第1层至第4层
穿通模式 在服务提供商网络和客户驻地设备之间对信息流进行分段
服务中断时间(SDT) 包括统计数据,包括最短中断时间,最长中断时间,上次中间时间,平均中断时间,总中断时间和通过/未通过阈值
多流生成 能够在以太网和IP网络上传输并监控多达16个数据流的功能。
信息流生成和监测 能够生成信息流并监测以太网和IP信息流,并能够根据下列统计数据进行信息流整形:吞吐量,帧丢失,帧排序,数据包抖动,延迟,帧大小,信息流类型和流量监测
VLAN堆叠 能够在任何堆叠的VLAN层上,以VLAN ID或VLAN优先级生成最多具有2层VLAN(包括IEEE802.1ad Q-in-Q标记的VLAN)的数据流