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边界扫描测试系统

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最后更新: 2017-10-02 19:12
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产品详细说明

“边界扫描测试系统”参数说明

类型: 数据采集扫描仪 扫描方式: 滚筒式扫描仪
接口类型: USB 扫描幅面: A6
光学分辨率: 1200dpi 适用场合: 条码扫描

“边界扫描测试系统”详细介绍

边界扫描测试(Boundary scan test)
边界扫描测试是什么?对于熟悉它的人来说,应该知道它功能的强大,对于不熟悉它的人来说,请允许我对它做一个简单的介绍。随着大规模集成电路的出现,高级程度的IC等电子元器件的体积原来越小,引脚越来越密集,PCB电路板制造工艺向小,微,薄发展等高精度化高集成化方面发展传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试。因此传统的人工测试已经不能满足现代化的生产与制作。边界扫描测试技术在这样的背景下诞生了,联合测试行为组织定义这种新的测试方法即边界扫描测试。被国际电工委员会收录为IEEE149.1-1990 边界扫描测试访问端口和边界扫描结构标准。该标准规定了进行边界扫描测试所需要的硬件和软件。
JTAG 主要应用于:电路的边界扫描测试和可编程芯片的在线系统编程。传统的人工测试已经不能满足现代化的生产与制作,芯片与芯片紧密联系着,IC与IC之间有大量的引脚关联,通过JTAG接口4条线,在软件的控制下,就可以将IC的每个引脚的状态读取出来。TDI 为数据输入端,TMS为模式控制端,TCK为时钟控制端,TDO为数据输出端。当芯片工作于边界扫描模式下,芯片就像是一个可编程的芯片,每个引脚都可控制,读写。边界扫描测试软件发出的扫描数据通过端口TDI进入IC,结合模式控制端口TMS和时钟控制端口 TCK,一个扫描周期里,数据输出端口就获取一段边界扫描测试扫描数据,边界扫描测试通过分析比较输入输出数据等运算,就可以判断IC引脚的状态,不同模式,边界扫描测试有不同的数据输出,运用不同的模式扫描,从而确定IC功能是否完好,焊接是否良好,是否有开短路。
边界扫描测试系统硬件要求:
1.电脑
2.TAP 接口
3.电源和夹具
边界扫描测试系统软件要求:
1.JTAG驱动编程软件,比如JTAG,ONTAP,Gopel等
2.边界扫描测试开发软件:比如 Labview,VB,C++等系统集成开发软件
边界扫描测试系统测试那些参数:
1.Interconnection test 交联性测试
2.Link test 连接测试
3.Flash memory test 闪存IC测试
4.DDRAM test  随机存储器测试
5.通过JATG 进行非JTAG器件测试
开发边界扫描测试系统需要那些文件:
PCBA是否可以用边界扫描来测试,取决于PCBA上是否有支持JTAG功能的IC。
卓能达ATE致力于边界扫描测试系统的开发与制作,并且有着丰富的经验和多种测试方案,为电子厂商的生产保驾护航。
卓能达致力与边界扫描,边界扫描机,边界扫描设备,jtag边界扫描,边界扫描测试,边界扫描测试仪,边界扫描测试系统的开发与制作。
更多关于边界扫描测试的详细资料请访问本公司网站,我们将为您提供更详细,更丰富的资料。
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