三星KLM4G1FE3B-B001字库黄点金点测试座，eMMC翻盖探针测试座

是否有现货：	是	制作工艺：	熔接
接触件材质：	进口铍铜	绝缘体材质：	Fr4
针数：	无	接口类型：	无需
特性：	携带方便，成本低	型号：	三星字库资料读取座
商标：	Kzt	产量：	100000

　　

　　可按客户要求定制各种IC测试治具，测试座，烧录座，厂家直销，品质保证，价格最优！

　　联系人：1576308756朱小姐

　　三星KLM4G黄点测试座

　　产品特点及性能参数：

　　1、结构全新设计，相比于之前的旧式结构造型美观，携带轻巧方便，布局更加紧凑，符合人机操作。

　　2、采用手动翻盖式结构，操作方便，测试效率高；

　　3、常规采用转接板＋SOCKET的结构，可以有效减少对于客户PCB的损伤，同时使结构标准化，可以提高产品的稳定性。

　　4、探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；

　　5、高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位精确，生产效率高；

　　6、采用浮板结构，对于IC有球无球都能测试

　　7、探针材料：铍铜（标准），

　　8、探针可更换，维修方便，成本低。

　　9、绝缘材料：FR4

　　产品服务

　　1.保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。

　　2.可以免费提供相关的技术支持。

　　定制服务

　　1.可以定制TF卡1拖4的夹具；

　　2.可以定制测试Flash　wafer晶圆探针台；

　　3.可定制三合一开卡器；

　　4.可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具；

　　5.提供基于U盘的1拖4　TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用；

　　6.可定制UDP一拖十六测试夹具；

　　7.可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和基于U盘的低级格式化解决方案；